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可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕，不均匀抛光，雾度，表面灰尘，滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 光学板光源YAMADA粒子光源YP-250ID装置现货
2024-11-23
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可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕，不均匀抛光，雾度，表面灰尘，滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YP-150I/YP-250ID双光源装置YAMADA山田
2024-11-23
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可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕，不均匀抛光，雾度，表面灰尘，滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA高亮度荧光光源YP-150ID · YP-250ID
2024-11-23
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可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕，不均匀抛光，雾度，表面灰尘，滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA山田高亮度铁光源装置YP-150ID现货
2024-11-23
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2024-11-23
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2024-11-23
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2024-11-23
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可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕，不均匀抛光，雾度，表面灰尘，滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YP-150ID YAMADA山田光学高亮度电子镜200V
2024-11-23
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